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提袋疲勞試驗機

簡要描述:提(ti)袋疲勞試驗機是對手提(ti)塑(su)袋進行上下振動(dong)疲勞試驗的儀器,本檢測儀器符合BB/T0039-2006《商(shang)品零(ling)售包裝袋》、GB/T21661-2008《塑(su)料(liao)(liao)購(gou)物袋》等(deng)(deng)標準,適用于(yu)對塑(su)料(liao)(liao)手提(ti)袋、背心袋等(deng)(deng)承受(shou)一定重量(liang)的提(ti)袋進行上下振動(dong)疲勞試驗。

  • 產品型號:BFT-10
  • 產       地:濟南市
  • 更新時間:2024-03-20
  • 訪  問  量:890
詳細介紹(shao)
品牌竹巖儀器應用領域醫療衛生
外形尺寸570mmX510mmX1520mm電源200V 50Hz
重量58kg

 

  提袋疲勞試驗機SPL-30A是對手提塑袋進行上下振動疲勞試驗的儀器,本檢測儀器符合BB/T0039-2006《商品零售包裝袋》、GB/T21661-2008《塑料購物袋》等標準,適用于對塑料手提袋、背心袋等承受一定重量的提袋進行上下振動疲勞試驗。


應用(yong)范圍
是對手提塑袋進行上下振動疲勞試驗的儀器,本檢測儀器符合BB/T0039-2006《商品零售包裝袋》、GB/T21661-2008《塑料購物袋》等標準,適用于對塑料手提袋、背心袋等承受一定重量的提袋進行上下振動疲勞試驗。主要是對塑料(liao)手(shou)提袋進行上下振動疲勞(lao)試驗的儀器(qi),是質檢機構的*產品。

 

測試原理

將相當于(yu) 2 倍的標稱內裝物質量的顆粒混合物裝滿四分之(zhi)三(san)袋(dai),然后(hou)懸掛在疲(pi)勞試驗機上,設(she)定好提袋(dai)次數或者提袋(dai)時間進行(xing)疲(pi)勞試驗,結束后(hou)觀察提袋(dai)處有無破損。

 提袋疲勞試驗機 手提袋疲勞測試儀

產品特征

(1)微電(dian)腦控制,大液晶(jing)顯(xian)示

(2)四立柱(zhu)式結構,試驗過程穩定可(ke)靠

(3)PVC操(cao)作面板(ban),人性(xing)化設計(ji)

(4)可自由設置疲勞試驗(yan)次數,也可設定試驗(yan)時間

(5)選用優良元器件,噪音小,壽命高

(6)提(ti)吊疲勞試驗(yan)(yan)機試驗(yan)(yan)結果自動打(da)印,實驗(yan)(yan)結果清晰明了

 

技術參數

儀器型(xing)號:BFT-10

振(zhen)    幅:30±2mm

振動頻率:2-3Hz(每分鐘 130 次)

試驗空間(jian)高度:≤1000mm(≤500mm可選)

載 重:20kg

記(ji)數范圍(wei):單(dan)一(yi)周期 99999 次

外(wai)形尺寸(cun):570mmX510mmX1520mm

重量:58Kg

 

執行標準:

GB/T 21661-2008 塑料購物袋(dai) 、QB/T 4379-2012 手提紙袋(dai)等

 

標準配置:

提袋疲勞試驗機主機、微型打印機

   測試技術作為獲取信息的手段之一, 是一門與計量科學和產品質量緊密相關的科學, 是儀器儀表和測試手段的結合, 是人們認識和改造自然的一種*的手段。儀器設備的不斷精密和復雜化對測試系統提出了更高的要求, 促進了測試系統的不斷發展。測量技術根據儀器的發展大致可分為五代:模擬儀器技術、數字儀器技術、智能儀器技術、虛擬儀器技術及IVI技術。
模擬儀器現在已經很少被運用到了, 只能在某些實驗室才能被看到。如指針式萬用表、晶體管電壓表等。他們的基本結構是電磁機械式的, 借助指針來顯示測試結果。
數字儀器現在還被廣泛應用在一些簡單設備的測量中, 如數字電壓表、數字頻率計等, 這類儀器將模擬信號的測量轉化為數字信號測量, 并以數字方式輸出結果。
20世紀70年代以來, 隨著微處理器和計算機技術的發展, 微處理器和計算機被越來越多的嵌入到測量儀器中構成了所謂的智能儀器。智能儀器是測試技術由人工測試邁向自動測試的重要一步, 從此測試技術與計算機技術緊密的聯系起來了。
與模擬儀器和數字儀器相比,智能儀器內置微處理器,既能進行自動測試又具有一定的數據處理能力,可取代部分腦力勞動,同時具有快速響應和較高準確性的優點。
但是它的(de)(de)(de)功能(neng)模塊全(quan)部都是以硬(ying)件或(huo)固化的(de)(de)(de)軟件的(de)(de)(de)形式存(cun)在(zai)的(de)(de)(de),缺乏靈(ling)活(huo)性。隨(sui)著設備(bei)復雜性的(de)(de)(de)不斷提高,測(ce)試(shi)系統也變(bian)得越(yue)來越(yue)復雜。一方面,一個測(ce)試(shi)系統中經常會出現多(duo)臺帶(dai)有(you)微機的(de)(de)(de)儀(yi)器與PC機同(tong)時使用,但又不能(neng)相(xiang)互補充和替代,造成了資源的(de)(de)(de)極大(da)浪費。另一方面,由(you)這類儀(yi)器搭建(jian)的(de)(de)(de)測(ce)試(shi)系統一般都是系統,一旦其(qi)被(bei)測(ce)對象退役(yi),為其(qi)服務(wu)的(de)(de)(de)一大(da)批測(ce)試(shi)系統也隨(sui)之報廢。

 


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