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玉林西林瓶內應力試驗機圖片

簡要(yao)描述(shu):技術特征
● 全彩色液晶顯示,觸摸屏操作,方便快捷,簡單直觀;
●定性、定量兩種試驗模式,可以進行多種檢測試驗;
●儀器直接輸出測試結果,不用認為計算;
●150mm超大光域,可以測試各種大小瓶子,尤其適合測試醫療輸液瓶、西林瓶、安瓿瓶等;
玉(yu)林(lin)(lin)西林(lin)(lin)瓶(ping)內應力試驗機圖片

  • 產品型號:
  • 產       地:濟南市
  • 更新(xin)時間:2024-03-20
  • 訪  問  量:1140
詳細介紹
品牌竹巖儀器價格區間1萬-5萬
產地類別國產應用領域醫療衛生,食品,文體

玉林西林瓶內應力試驗機圖片

技術特征

● 全彩色液晶顯示,觸摸屏操(cao)作,方(fang)便快捷,簡單直觀;

●定(ding)(ding)性、定(ding)(ding)量兩種試驗(yan)模式(shi),可以進行多種檢測試驗(yan);

●儀器直接輸出測試結果,不用認為計算;
●150mm超大(da)(da)光(guang)域,可以測試(shi)各種大(da)(da)小瓶子,尤其適(shi)合測試(shi)醫(yi)療輸液瓶、西林(lin)瓶、安瓿瓶等(deng);

PLS-10偏光應力儀利用偏振光干涉原理檢查玻璃內應力,儀器主要通過晶體雙折射效應來實現偏振光的疊加,從而將玻璃瓶身上面的有殘余應力部分區分出來。儀器配有靈敏色片,并應用1/4波片補償法進行定量測試,因此本儀器不僅可以根據偏振場中的干涉色序,定性或半定量的測量玻璃的殘余內應力,還可以準確測量出玻璃內應力的定量數值。
標準

YBB00332002-2015低硼硅玻璃安瓿瓶、YBB00162003-2015內(nei)應力測(ce)定(ding)法,YBB00032005-2015鈉鈣玻璃輸(shu)液瓶等




玉林西林瓶內應力試驗機圖片

目(mu)前,各種(zhong)儀器所參考(kao)的(de)標(biao)準多(duo)種(zhong)多(duo)樣(yang),其中對光(guang)(guang)源(yuan)波(bo)(bo)長(chang)的(de)技(ji)(ji)術要(yao)求(qiu)也各不相同。大多(duo)數儀器參照GB/T4545-2007《玻璃(li)瓶罐(guan)內(nei)應(ying)力(li)(li)試(shi)驗方(fang)(fang)法(fa)》(其技(ji)(ji)術內(nei)容主(zhu)要(yao)參考(kao)ASTM C148-00《玻璃(li)瓶罐(guan)內(nei)應(ying)力(li)(li)檢(jian)驗方(fang)(fang)法(fa)》)、GB/T12415-2015《藥用玻璃(li)容器內(nei)應(ying)力(li)(li)檢(jian)測(ce)方(fang)(fang)法(fa)》或YBB00162003-2015《內(nei)應(ying)力(li)(li)測(ce)定法(fa)》,這幾種(zhong)方(fang)(fang)法(fa)采用白(bai)光(guang)(guang)光(guang)(guang)源(yuan)測(ce)量,有(you)效(xiao)波(bo)(bo)長(chang)為(wei)565nm;有(you)些儀器參照GB/T7962.5-2010《無色光(guang)(guang)學玻璃(li)測(ce)試(shi)方(fang)(fang)法(fa) 第5部分:應(ying)力(li)(li)雙折(zhe)射》,該方(fang)(fang)法(fa)對儀器提(ti)出(chu)明確技(ji)(ji)術要(yao)求(qiu),濾光(guang)(guang)片(pian)的(de)峰(feng)值(zhi)波(bo)(bo)長(chang)為(wei)(540±5)nm,波(bo)(bo)帶(dai)半高寬為(wei)6nm,在(zai)(zai)可見光(guang)(guang)區域不允許有(you)次峰(feng);在(zai)(zai)GB/T26827-2011《波(bo)(bo)片(pian)相位(wei)延(yan)遲測(ce)量裝置(zhi)的(de)校準方(fang)(fang)法(fa)》中,則提(ti)出(chu)了標(biao)準波(bo)(bo)片(pian)在(zai)(zai)非632.8nm波(bo)(bo)長(chang)條件下的(de)相位(wei)延(yan)遲折(zhe)算公(gong)式,并提(ti)供了晶體石英最大折(zhe)射率(lv)計算用表。

因(yin)此(ci),市場上的(de)儀器(qi)所用的(de)波(bo)長差(cha)(cha)別很大(da),廣(guang)泛的(de)為(wei)(wei)565nm,其次為(wei)(wei)560nm,再次為(wei)(wei)589.3nm,其余為(wei)(wei)532nm、540nm、546nm、632nm等。嚴格地說,應力所造成的(de)相(xiang)位(wei)延遲,相(xiang)對于各種波(bo)長略(lve)有不同(tong),即同(tong)一被測(ce)樣品對不同(tong)波(bo)長的(de)光產生的(de)雙折(zhe)射(she)相(xiang)位(wei)延遲不同(tong),例如對于石英晶體來說,其雙折(zhe)射(she)相(xiang)位(wei)延遲在紫外波(bo)段(duan)與可見波(bo)段(duan)相(xiang)比相(xiang)差(cha)(cha)較大(da)。因(yin)此(ci),不同(tong)的(de)測(ce)量波(bo)長會導致應力測(ce)量結果產生差(cha)(cha)別。


 


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